Department Seminars & Colloquia

Category 학과 Seminar/ Colloquium
Event PH.D Defence
Title 통계적 방법과 신경망을 이용한 반도체 영상에서 결함 검사
Abstract
Daytime 2022-12-12 (Mon) / 10:00 ~ 11:30 ** 날짜에 유의하세요. **
Place 산업경영학동 2222호
Language To be announced
Speaker`s name 유진규
Speakers`s Affiliation
Speaker`s homepage
Other information 심사위원장: 이창옥, 심사위원: 김동환, 임미경, 예종철(겸임교수), 한송희(삼성전자)
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